粒度分布是粉體*的一種性質，也是決定粉體行為與屬性的重要物理性質。因此，在處理粉體時必須進行粒度分布的分析。常用的粒度分析儀有激光粒度分析儀、超聲粒度分析儀、消光法光學沉積儀及X射線沉積儀等，其中激光粒度分析儀測量方便快捷、重現(xiàn)性高，能很好的測出樣品的粒度分布曲線和集中度，越是球狀顆粒，測量的越，因而廣泛適用于材料、化工、制藥、精細陶瓷、造紙、化妝品、冶金等以顆粒物作為生產(chǎn)原料的行業(yè)，以及中間體的實驗室分析和工業(yè)生產(chǎn)中質量控制等諸多領域。

陶瓷粉末粒度分析儀是真理光學技術團隊基于二十多年粒度表征和應用經(jīng)驗開發(fā)的新一代粒度分析系統(tǒng)，該系統(tǒng)加持多項創(chuàng)新技術和，測量速度高達每秒20000次，而且Hydrolink分散進樣器更是采用了雙電機驅動，內(nèi)置高效率超聲，強力攪拌和離心循環(huán)泵分開獨立控制，適用于各種類型的復雜樣品，對于密度大和分布寬的金屬粉末和硬質合金等樣品，也能輕松分散和進樣并獲得可靠的高重現(xiàn)性結果。陶瓷粉末粒度分析儀適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、樹脂、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農(nóng)藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業(yè)。

陶瓷粉末粒度分析儀的技術參數(shù)包括：

項目	指標
測量原理	激光衍射
光學模型	全量程米氏理論及夫朗霍夫理論可選
粒徑范圍	0.02μm -3600μm，無需更換透鏡，不依賴標樣校準
檢測系統(tǒng)	包含格柵式超大角度，非均勻交叉面積補償檢測器陣列，全測量角度范圍無盲區(qū)
光源	集成恒溫系統(tǒng)的638nm, 20mW固體激光器
空間濾波方式	偏振濾波技術
光學對中系統(tǒng)	智能全自動
測量時間	典型值小于10秒
測量速度	20000次/秒
度	Dv50優(yōu)于±0.6% （NIST可溯源乳膠標樣）
重復性	Dv50優(yōu)于±0.5% （NIST可溯源乳膠標樣）
激光安全	1類激光產(chǎn)品
計算機配置	In i5處理器，4GB內(nèi)存，250GB硬盤，鼠標，鍵盤和寬屏顯示器
計算機接口	USB2.0
軟件運行平臺	Windows 7版或以上版
操作環(huán)境溫度	5℃ - 40℃
操作環(huán)境濕度	10% - 85%相對濕度（無結凝）
電源要求	交流220V, 50Hz – 60Hz, 標準接地
光學系統(tǒng)重量	26kg
光學系統(tǒng)尺寸	636mm x275mm x320mm

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